Yrd. Doç. Dr. Özgenç Ebil

 

Yard. Doç. Dr.  Özgenç EBİL

İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü Kimya Mühendisliği Bölümü, Urla, İzmir
E-posta : xxxxx@iyte.edu.tr    Telefon: +90 232 750 6616  Faks: +90 232 750 6645

Eğitim:

  • Ph.D. Malzeme Bilimi ve Mühendisliği, University of Delaware
  • M.Sc. Malzeme Bilimi ve Mühendisliği , İYTE
  • B.Sc. Kimya Mühendisliği, Hacettepe Üniversitesi

Tecrübe:

  • Merkez Müdür, MAlzeme Araştırma Merkesi-İYTE    2013-
  • Yar. Doç .Dr. Kimya Mühendisliği, İYTE, 2011-
  • Proje Yöneticisi, EM Photonics Inc., ABD   2007-2011
  • K. Mühendis, Nanoselect Inc., ABD  2006-2007
  • Doktora Sonrası Araştırmacı, Massachusetts Institute of Technology (MIT), ABD  2005-2006
  • Araştırma Görevlisi, Institute of energy Conversion (IEC), ABD 2000-2005
  • Araştırma Görevlisi, Mühendislik Fakültesi, İYTE  1996-1999

Araştırma Alanları:

Organik ve inorganik ince filmlerin Kimyasal Buhar Biriktirme yöntemi ile üretimi, Optik malzemeler, Nano-fotonik, Kimyasal ve biyolojik algılayıcılar, RF görüntüleme ve uzaktan algılama, nano üretim teknikleri

Yayınlar:

  • M. J. Zablocki, A. Sharkawy, Ö. Ebil, D. W. Prather, “Nanomembrane transfer process for intricate photonic device applications”, Optics Letters, Optics Letters, (36), 1, pp. 58-60 (2011)
  • M. Zablocki, A. Sharkawy, Ö. Ebil, S. Shi, D. W. Prather, “Electro-optically switched compact coupled photonic crystal waveguides directional coupler”, Appl. Phys. Lett. 96, 081110 (2010)
  • Ö. Ebil, R. Aparicio, R. Birkmire, “Aluminum-induced crystallization of amorphous Silicon films on glass substrates”, Thin Solid Films 519, pp. 178-183, (2010)
  • Ö. Ebil, R. Aparicio, S. Hazra, R. W. Birkmire, E. Sutter,” Deposition and structural characterization of poly-Si thin films on Al-coated glass substrates using hot-wire chemical vapor deposition”, Thin Solid Films, Volume 430, Issues 1-2, 22 April 2003, 120-124
  • I. W. Hall, Ö. Ebil, M. Guden, C. J. Yu, “Quasi-static and dynamic crushing of empty and foam-filled tubes”, J. Materials Science, 36 (2001) p. 5853